十组通道在一台设备
十组同步输出与量测
ACWV / DCWV / IR 三合一安规测试
10 台主/从机控制
可程序电压输出及限制值
OSC 开短路侦测
Flashover 电气闪络侦测
5kVac & 6kVdc 耐压测试
1MΩ ~ 50GΩ 绝缘阻抗测试
标准 RS232 / Handler / GPIB 界面
大型 LCD 面板
面板锁定功能
CE 认证
chroma19020多通道扫描耐压测试器， 可同时量测所有通道的耐压漏电流值，可让 您同时对 100 个待测物进行测试。 不需另外购买多台耐压测试器，减少产线空间浪费，单次多通道测试，提升电气安规测试的效率，对于产在线只需要做耐压测试的产品，可增进产线效能，减少测试风险。
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十组同步输出与量测
ACWV / DCWV / IR 三合一安规测试
10 台主/从机控制
可程序电压输出及限制值
OSC 开短路侦测
Flashover 电气闪络侦测
5kVac & 6kVdc 耐压测试
1MΩ ~ 50GΩ 绝缘阻抗测试
标准 RS232 / Handler / GPIB 界面
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多颗待测物耐压测试常碰见的课题是输出无法同步。在产线规划或自动化规划时，二个待测物之间的距离可能会很小。以输出电压5kVac为例，当耐压测试器的输出不同步时，将会造成二个待测物之间产生高电压差(可达≤14kV peak-peak) 的放电，导致治具损坏及测试误判。Chroma 19020将输出电压同步化，相邻的二端高压之间将不会发生高压差而导致放电，不但可延长您产线设备的寿命，也减少测试误判的情形发生。
多颗待测物耐压测试常碰见的课题是输出无法同步。在产线规划或自动化规划时，二个待测物之间的距离可能会很小。以输出电压5kVac为例，当耐压测试器的输出不同步时，将会造成二个待测物之间产生高电压差(可达≤14kV peak-peak) 的放电，导致治具损坏及测试误判。Chroma 19020将输出电压同步化，相邻的二端高压之间将不会发生高压差而导致放电，不但可延长您产线设备的寿命，也减少测试误判的情形发生。
OSC 功能为侦测测试过程中是否有开路(接触不良)或短路(待测物短路)的情形发生。测试过程中若发生开路现象，会导致不良品误判为良品 ; 若发生短路现象，可提早得知并筛选，减少对治具设备的伤害，节省测试成本。
一般耐压测试产品皆呈电容性(Cx)，在正常状态下可能在数十pF至数µF之间，一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量(图6)，一般低于10pF，而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象，因此可利用电容量变化之上下限值判定出短路问题。
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一般耐压测试产品皆呈电容性(Cx)，在正常状态下可能在数十pF至数µF之间，一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量(图6)，一般低于10pF，而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象，因此可利用电容量变化之上下限值判定出短路问题。
如果您有任何问题，请跟我们联系！
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1MΩ ~ 50GΩ 绝缘阻抗测试
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多颗待测物耐压测试常碰见的课题是输出无法同步。在产线规划或自动化规划时，二个待测物之间的距离可能会很小。以输出电压5kVac为例，当耐压测试器的输出不同步时，将会造成二个待测物之间产生高电压差(可达≤14kV peak-peak) 的放电，导致治具损坏及测试误判。Chroma 19020将输出电压同步化，相邻的二端高压之间将不会发生高压差而导致放电，不但可延长您产线设备的寿命，也减少测试误判的情形发生。
多颗待测物耐压测试常碰见的课题是输出无法同步。在产线规划或自动化规划时，二个待测物之间的距离可能会很小。以输出电压5kVac为例，当耐压测试器的输出不同步时，将会造成二个待测物之间产生高电压差(可达≤14kV peak-peak) 的放电，导致治具损坏及测试误判。Chroma 19020将输出电压同步化，相邻的二端高压之间将不会发生高压差而导致放电，不但可延长您产线设备的寿命，也减少测试误判的情形发生。
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一般耐压测试产品皆呈电容性(Cx)，在正常状态下可能在数十pF至数µF之间，一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量(图6)，一般低于10pF，而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象，因此可利用电容量变化之上下限值判定出短路问题。
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