可输出6kV脉冲测试(依待测物的电容量决定)
可设定的脉冲间隔时间30ms~3000ms
8种判定： 面积比较、面积差比较、颤动量侦测 (接触检查)、二次微分侦测、第一电压峰值、第三电压峰值、波峰比、波峰差比
接触检查
崩溃电压分析模式(BDV Mode)
高取样率(200MHz)
支持25通道扫描测试(19311-10搭配A190362选购)
英文/繁中/简中操作接口
支援USB随身碟 :波形、测试条件/结果储存;画面撷取;内存数据备份
图形化彩色显示
标配LAN、USB、RS232控制接口
电池芯脉冲测试仪Chroma19311系列的输出电压0.10KV~6.00KV,步进0.01KV,测试电压≥3.00KV,采样率200MHz,可设定的脉冲间隔时间30ms~3000ms,Chroma 19311系列电池芯脉冲测试仪八种判定功能
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|
Model |
19311 |
19311-10 |
|
Output Voltage, Step |
0.10 kV~6.00 kV, 0.01 kV * |
|
|
Test Voltage |
≥ 3.00kV @ 50nF |
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|
Sampling Rate |
200MHz |
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Width Range |
11 Range : 1~11 & Auto |
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|
Pulse Number |
1~32 & Continue |
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|
Pulse Interval |
30ms ~ 3000ms for ≤ 4kV 60ms ~3000ms for > 4kV0 70mS ~3000ms for continue (Screen On) 30mS ~3000ms for continue (Screen Off) |
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|
Channels |
1 |
10 |
|
Model |
19311 |
19311-10 |
|
Output Voltage, Step |
0.10 kV~6.00 kV, 0.01 kV * |
|
|
Test Voltage |
≥ 3.00kV @ 50nF |
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|
Sampling Rate |
200MHz |
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|
Width Range |
11 Range : 1~11 & Auto |
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|
Pulse Number |
1~32 & Continue |
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|
Pulse Interval |
30ms ~ 3000ms for ≤ 4kV 60ms ~3000ms for > 4kV0 70mS ~3000ms for continue (Screen On) 30mS ~3000ms for continue (Screen Off) |
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|
Channels |
1 |
10 |
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可输出6kV脉冲测试(依待测物的电容量决定)
可设定的脉冲间隔时间30ms~3000ms
8种判定： 面积比较、面积差比较、颤动量侦测 (接触检查)、二次微分侦测、第一电压峰值、第三电压峰值、波峰比、波峰差比
接触检查
崩溃电压分析模式(BDV Mode)
高取样率(200MHz)
支持25通道扫描测试(19311-10搭配A190362选购)
英文/繁中/简中操作接口
支援USB随身碟 :波形、测试条件/结果储存;画面撷取;内存数据备份
图形化彩色显示
标配LAN、USB、RS232控制接口
脉冲测试是将一个 "非破坏性"、短暂且低能量的脉冲电压施加在铅酸电池芯上。当施加脉冲测试时，由于19311/19311-10的内部有一个谐振电感，所以电池芯会与内部电感产生谐振。将测试的谐振波形加以分析或与样品的谐振波形进行比对来判断出铅酸电池芯是否为良品。对尚未注入电解液的铅酸电池芯做脉冲测试，主要是为了在注入电解液之前发现铅酸电池芯是否有绝缘不良或是隔离膜不存在的问题。在开关打开后，铅酸电池芯与内部电感谐振波形的电压峰值衰减状态代表着绝缘质量的好坏。
脉冲测试是将一个 "非破坏性"、短暂且低能量的脉冲电压施加在铅酸电池芯上。当施加脉冲测试时，由于19311/19311-10的内部有一个谐振电感，所以电池芯会与内部电感产生谐振。将测试的谐振波形加以分析或与样品的谐振波形进行比对来判断出铅酸电池芯是否为良品。对尚未注入电解液的铅酸电池芯做脉冲测试，主要是为了在注入电解液之前发现铅酸电池芯是否有绝缘不良或是隔离膜不存在的问题。在开关打开后，铅酸电池芯与内部电感谐振波形的电压峰值衰减状态代表着绝缘质量的好坏。
一、用于接触检查 Contact Check
接触检查功能利用谐振频率的差异来检测是否有连接到待测物。由于当没有碰触好或是没有接到待测物做测试时，电容量会比有接待测物时还要小很多，所以波形谐振的频率会变高，并可利用此频率差异做检测。使用者可依各自的需求对接触检查的灵敏度做调整，可将界线提高来增加接触检查的灵敏度或是将界线降低来减少接触检查的灵敏度。
二、用于崩溃电压分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
19311 Series具有崩溃电压分析功能，可设定起始电压与结束电压，利用电压爬升过程侦测波形面积比(Area) 、二阶微分侦测(Laplacian) 及波峰比(Peak Ratio)是否超过设定的限制，测试电池芯可承受的脉冲测试电压。研究人员可利用此功能对铅酸电池芯进行分析与研究，及制定制造生产时脉冲测试的检测电压。
三、用于10~25通道扫描测试
19311-10 单机有10个通道可进行扫描测试，可以一次连续测试9个电池芯。搭配Scan Box(A190362)，可以扩增通道数至25个通道一次可连续测试24个铅酸电池芯。
四、具备Screenshot 画面撷取功能
操作者可以利用快捷键撷取操作当下屏幕上所显示的画面，显示画面的截图的会储存于插置在19311上的USB 随身硬盘。
五、满足数据导出需求，具备Export 功能
操作者可以利用Export功能将每一次测试的数据结果导出并储存于插置在19311/19311-10上的USB 随身硬盘(USB flashdrive)。操作者亦可针对每一次的测试结果进行数据分析。储存文件格式为CSV（Comma Separated Values）。
一、用于接触检查 Contact Check
接触检查功能利用谐振频率的差异来检测是否有连接到待测物。由于当没有碰触好或是没有接到待测物做测试时，电容量会比有接待测物时还要小很多，所以波形谐振的频率会变高，并可利用此频率差异做检测。使用者可依各自的需求对接触检查的灵敏度做调整，可将界线提高来增加接触检查的灵敏度或是将界线降低来减少接触检查的灵敏度。
二、用于崩溃电压分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
19311 Series具有崩溃电压分析功能，可设定起始电压与结束电压，利用电压爬升过程侦测波形面积比(Area) 、二阶微分侦测(Laplacian) 及波峰比(Peak Ratio)是否超过设定的限制，测试电池芯可承受的脉冲测试电压。研究人员可利用此功能对铅酸电池芯进行分析与研究，及制定制造生产时脉冲测试的检测电压。
三、用于10~25通道扫描测试
19311-10 单机有10个通道可进行扫描测试，可以一次连续测试9个电池芯。搭配Scan Box(A190362)，可以扩增通道数至25个通道一次可连续测试24个铅酸电池芯。
四、具备Screenshot 画面撷取功能
操作者可以利用快捷键撷取操作当下屏幕上所显示的画面，显示画面的截图的会储存于插置在19311上的USB 随身硬盘。
五、满足数据导出需求，具备Export 功能
操作者可以利用Export功能将每一次测试的数据结果导出并储存于插置在19311/19311-10上的USB 随身硬盘(USB flashdrive)。操作者亦可针对每一次的测试结果进行数据分析。储存文件格式为CSV（Comma Separated Values）。
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Model |
19311 |
19311-10 |
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Output Voltage, Step |
0.10 kV~6.00 kV, 0.01 kV * |
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Test Voltage |
≥ 3.00kV @ 50nF |
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Sampling Rate |
200MHz |
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Width Range |
11 Range : 1~11 & Auto |
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Pulse Number |
1~32 & Continue |
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Pulse Interval |
30ms ~ 3000ms for ≤ 4kV 60ms ~3000ms for > 4kV0 70mS ~3000ms for continue (Screen On) 30mS ~3000ms for continue (Screen Off) |
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Channels |
1 |
10 |
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Model |
19311 |
19311-10 |
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Output Voltage, Step |
0.10 kV~6.00 kV, 0.01 kV * |
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Test Voltage |
≥ 3.00kV @ 50nF |
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Sampling Rate |
200MHz |
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Width Range |
11 Range : 1~11 & Auto |
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Pulse Number |
1~32 & Continue |
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Pulse Interval |
30ms ~ 3000ms for ≤ 4kV 60ms ~3000ms for > 4kV0 70mS ~3000ms for continue (Screen On) 30mS ~3000ms for continue (Screen Off) |
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Channels |
1 |
10 |
如果您有任何问题，请跟我们联系！
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可输出6kV脉冲测试(依待测物的电容量决定)
可设定的脉冲间隔时间30ms~3000ms
8种判定： 面积比较、面积差比较、颤动量侦测 (接触检查)、二次微分侦测、第一电压峰值、第三电压峰值、波峰比、波峰差比
接触检查
崩溃电压分析模式(BDV Mode)
高取样率(200MHz)
支持25通道扫描测试(19311-10搭配A190362选购)
英文/繁中/简中操作接口
支援USB随身碟 :波形、测试条件/结果储存;画面撷取;内存数据备份
图形化彩色显示
标配LAN、USB、RS232控制接口
脉冲测试是将一个 "非破坏性"、短暂且低能量的脉冲电压施加在铅酸电池芯上。当施加脉冲测试时，由于19311/19311-10的内部有一个谐振电感，所以电池芯会与内部电感产生谐振。将测试的谐振波形加以分析或与样品的谐振波形进行比对来判断出铅酸电池芯是否为良品。对尚未注入电解液的铅酸电池芯做脉冲测试，主要是为了在注入电解液之前发现铅酸电池芯是否有绝缘不良或是隔离膜不存在的问题。在开关打开后，铅酸电池芯与内部电感谐振波形的电压峰值衰减状态代表着绝缘质量的好坏。
脉冲测试是将一个 "非破坏性"、短暂且低能量的脉冲电压施加在铅酸电池芯上。当施加脉冲测试时，由于19311/19311-10的内部有一个谐振电感，所以电池芯会与内部电感产生谐振。将测试的谐振波形加以分析或与样品的谐振波形进行比对来判断出铅酸电池芯是否为良品。对尚未注入电解液的铅酸电池芯做脉冲测试，主要是为了在注入电解液之前发现铅酸电池芯是否有绝缘不良或是隔离膜不存在的问题。在开关打开后，铅酸电池芯与内部电感谐振波形的电压峰值衰减状态代表着绝缘质量的好坏。
一、用于接触检查 Contact Check
接触检查功能利用谐振频率的差异来检测是否有连接到待测物。由于当没有碰触好或是没有接到待测物做测试时，电容量会比有接待测物时还要小很多，所以波形谐振的频率会变高，并可利用此频率差异做检测。使用者可依各自的需求对接触检查的灵敏度做调整，可将界线提高来增加接触检查的灵敏度或是将界线降低来减少接触检查的灵敏度。
二、用于崩溃电压分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
19311 Series具有崩溃电压分析功能，可设定起始电压与结束电压，利用电压爬升过程侦测波形面积比(Area) 、二阶微分侦测(Laplacian) 及波峰比(Peak Ratio)是否超过设定的限制，测试电池芯可承受的脉冲测试电压。研究人员可利用此功能对铅酸电池芯进行分析与研究，及制定制造生产时脉冲测试的检测电压。
三、用于10~25通道扫描测试
19311-10 单机有10个通道可进行扫描测试，可以一次连续测试9个电池芯。搭配Scan Box(A190362)，可以扩增通道数至25个通道一次可连续测试24个铅酸电池芯。
四、具备Screenshot 画面撷取功能
操作者可以利用快捷键撷取操作当下屏幕上所显示的画面，显示画面的截图的会储存于插置在19311上的USB 随身硬盘。
五、满足数据导出需求，具备Export 功能
操作者可以利用Export功能将每一次测试的数据结果导出并储存于插置在19311/19311-10上的USB 随身硬盘(USB flashdrive)。操作者亦可针对每一次的测试结果进行数据分析。储存文件格式为CSV（Comma Separated Values）。
一、用于接触检查 Contact Check
接触检查功能利用谐振频率的差异来检测是否有连接到待测物。由于当没有碰触好或是没有接到待测物做测试时，电容量会比有接待测物时还要小很多，所以波形谐振的频率会变高，并可利用此频率差异做检测。使用者可依各自的需求对接触检查的灵敏度做调整，可将界线提高来增加接触检查的灵敏度或是将界线降低来减少接触检查的灵敏度。
二、用于崩溃电压分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
19311 Series具有崩溃电压分析功能，可设定起始电压与结束电压，利用电压爬升过程侦测波形面积比(Area) 、二阶微分侦测(Laplacian) 及波峰比(Peak Ratio)是否超过设定的限制，测试电池芯可承受的脉冲测试电压。研究人员可利用此功能对铅酸电池芯进行分析与研究，及制定制造生产时脉冲测试的检测电压。
三、用于10~25通道扫描测试
19311-10 单机有10个通道可进行扫描测试，可以一次连续测试9个电池芯。搭配Scan Box(A190362)，可以扩增通道数至25个通道一次可连续测试24个铅酸电池芯。
四、具备Screenshot 画面撷取功能
操作者可以利用快捷键撷取操作当下屏幕上所显示的画面，显示画面的截图的会储存于插置在19311上的USB 随身硬盘。
五、满足数据导出需求，具备Export 功能
操作者可以利用Export功能将每一次测试的数据结果导出并储存于插置在19311/19311-10上的USB 随身硬盘(USB flashdrive)。操作者亦可针对每一次的测试结果进行数据分析。储存文件格式为CSV（Comma Separated Values）。
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Model |
19311 |
19311-10 |
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Output Voltage, Step |
0.10 kV~6.00 kV, 0.01 kV * |
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Test Voltage |
≥ 3.00kV @ 50nF |
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Sampling Rate |
200MHz |
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Width Range |
11 Range : 1~11 & Auto |
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Pulse Number |
1~32 & Continue |
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Pulse Interval |
30ms ~ 3000ms for ≤ 4kV 60ms ~3000ms for > 4kV0 70mS ~3000ms for continue (Screen On) 30mS ~3000ms for continue (Screen Off) |
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19311 |
19311-10 |
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Output Voltage, Step |
0.10 kV~6.00 kV, 0.01 kV * |
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Test Voltage |
≥ 3.00kV @ 50nF |
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Sampling Rate |
200MHz |
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Width Range |
11 Range : 1~11 & Auto |
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Pulse Number |
1~32 & Continue |
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Pulse Interval |
30ms ~ 3000ms for ≤ 4kV 60ms ~3000ms for > 4kV0 70mS ~3000ms for continue (Screen On) 30mS ~3000ms for continue (Screen Off) |
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