绕线元件电气安规扫描分析仪Chroma 19036结合脉冲测试，耐压、 绝缘电阻与直流电阻量测于单机的绕线元件电气安规扫描分析仪，拥有5kVac/6kVdc高压输出、 5kV绝缘电阻、6kV层间短路脉冲电压与四线式直流电阻量测。符合绕线元件测试需求且提供多通道扫描测试，单机10通道输出可达成一次多颗扫描测试，节省测试时间及人力成本。
————
————
五合一安规扫描分析仪 (交流耐压、直流耐压、绝缘电阻、 层间短路、 直流电阻)
耐压测试(Hi-pot) - 5kVac / 6kVdc - HSCC 高速接触检查
绝缘电阻测试(IR) : ≤5kV
绕线元件脉冲测试 (IWT)
-脉冲测试高取样率(200MHz)
直流电阻测试 - 10通道四线直流电阻测试 /-Δ型/Y型马达绕线电阻计算
支援≤40通道扫描测试
繁中 / 简中 / 英文操作介面
USB波形储存& 画面撷取功能
图形化彩色显示
标准LAN, USB, RS232介面
GFI人体保护电路
19036与C h r o m a其他安规测试系列仪器同样具有 Flashover侦测功能。Flashover是绝缘材料内部或表面因高电界产生电气放电，待测物失去原有之绝缘特性，形成暂态或非连续性放电，导致碳化导电通路产生或产品伤害。若只以漏电流判定则无法检出不良，须以测试电压或漏电流之变化率判定检出不良。因此Flashover侦测为高压测试不可或缺的检视项目之一。
19036与C h r o m a其他安规测试系列仪器同样具有 Flashover侦测功能。Flashover是绝缘材料内部或表面因高电界产生电气放电，待测物失去原有之绝缘特性，形成暂态或非连续性放电，导致碳化导电通路产生或产品伤害。若只以漏电流判定则无法检出不良，须以测试电压或漏电流之变化率判定检出不良。因此Flashover侦测为高压测试不可或缺的检视项目之一。
部分生产厂商常以并联进行耐压测试以提升生产检测速度，但并联测试时，无法正确设定电流上下限值，导致不良品流出; 以及不良品需至后测站另加进行测试，增加站数及成本。
19036系列提供次测项功能(sub-step)。当生产需要并联测试时，经由程序的编辑，以不良(Fail)做为次测项启动条件。意指当测试于主测项(并联)不良时，才会进行次测项测试(单颗)，即可判断出不良品为哪一颗待测物，可达到高产速与高检测品质。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
部分生产厂商常以并联进行耐压测试以提升生产检测速度，但并联测试时，无法正确设定电流上下限值，导致不良品流出; 以及不良品需至后测站另加进行测试，增加站数及成本。
19036系列提供次测项功能(sub-step)。当生产需要并联测试时，经由程序的编辑，以不良(Fail)做为次测项启动条件。意指当测试于主测项(并联)不良时，才会进行次测项测试(单颗)，即可判断出不良品为哪一颗待测物，可达到高产速与高检测品质。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
所谓的''绕线元件脉冲测试''基本上是以一''非破坏性''、高速、低能量之电压脉冲施加在待测物上，再藉由分析／比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线元件脉冲测试主要功能乃在早期发现绕线元件中各种潜在之缺陷，例如：层间短路、电晕电弧或甚至是不易发觉之部分放电等。
四种判定模式
g 波形面积比较 (AREA SIZE)
g 波形差面积比较 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形颤动侦测 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二阶微分侦测 (LAPLACIAN DETECTION)
以二阶微分演算，有效侦测出因电气放电造成之波形不连续现象。
所谓的''绕线元件脉冲测试''基本上是以一''非破坏性''、高速、低能量之电压脉冲施加在待测物上，再藉由分析／比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线元件脉冲测试主要功能乃在早期发现绕线元件中各种潜在之缺陷，例如：层间短路、电晕电弧或甚至是不易发觉之部分放电等。
四种判定模式
g 波形面积比较 (AREA SIZE)
g 波形差面积比较 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形颤动侦测 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二阶微分侦测 (LAPLACIAN DETECTION)
以二阶微分演算，有效侦测出因电气放电造成之波形不连续现象。
如果您有任何问题，请跟我们联系！
联系我们绕线元件电气安规扫描分析仪Chroma 19036结合脉冲测试，耐压、 绝缘电阻与直流电阻量测于单机的绕线元件电气安规扫描分析仪，拥有5kVac/6kVdc高压输出、 5kV绝缘电阻、6kV层间短路脉冲电压与四线式直流电阻量测。符合绕线元件测试需求且提供多通道扫描测试，单机10通道输出可达成一次多颗扫描测试，节省测试时间及人力成本。
————
五合一安规扫描分析仪 (交流耐压、直流耐压、绝缘电阻、 层间短路、 直流电阻)
耐压测试(Hi-pot) - 5kVac / 6kVdc - HSCC 高速接触检查
绝缘电阻测试(IR) : ≤5kV
绕线元件脉冲测试 (IWT)
-脉冲测试高取样率(200MHz)
直流电阻测试 - 10通道四线直流电阻测试 /-Δ型/Y型马达绕线电阻计算
支援≤40通道扫描测试
繁中 / 简中 / 英文操作介面
USB波形储存& 画面撷取功能
图形化彩色显示
标准LAN, USB, RS232介面
GFI人体保护电路
19036与C h r o m a其他安规测试系列仪器同样具有 Flashover侦测功能。Flashover是绝缘材料内部或表面因高电界产生电气放电，待测物失去原有之绝缘特性，形成暂态或非连续性放电，导致碳化导电通路产生或产品伤害。若只以漏电流判定则无法检出不良，须以测试电压或漏电流之变化率判定检出不良。因此Flashover侦测为高压测试不可或缺的检视项目之一。
19036与C h r o m a其他安规测试系列仪器同样具有 Flashover侦测功能。Flashover是绝缘材料内部或表面因高电界产生电气放电，待测物失去原有之绝缘特性，形成暂态或非连续性放电，导致碳化导电通路产生或产品伤害。若只以漏电流判定则无法检出不良，须以测试电压或漏电流之变化率判定检出不良。因此Flashover侦测为高压测试不可或缺的检视项目之一。
部分生产厂商常以并联进行耐压测试以提升生产检测速度，但并联测试时，无法正确设定电流上下限值，导致不良品流出; 以及不良品需至后测站另加进行测试，增加站数及成本。
19036系列提供次测项功能(sub-step)。当生产需要并联测试时，经由程序的编辑，以不良(Fail)做为次测项启动条件。意指当测试于主测项(并联)不良时，才会进行次测项测试(单颗)，即可判断出不良品为哪一颗待测物，可达到高产速与高检测品质。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
部分生产厂商常以并联进行耐压测试以提升生产检测速度，但并联测试时，无法正确设定电流上下限值，导致不良品流出; 以及不良品需至后测站另加进行测试，增加站数及成本。
19036系列提供次测项功能(sub-step)。当生产需要并联测试时，经由程序的编辑，以不良(Fail)做为次测项启动条件。意指当测试于主测项(并联)不良时，才会进行次测项测试(单颗)，即可判断出不良品为哪一颗待测物，可达到高产速与高检测品质。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
所谓的''绕线元件脉冲测试''基本上是以一''非破坏性''、高速、低能量之电压脉冲施加在待测物上，再藉由分析／比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线元件脉冲测试主要功能乃在早期发现绕线元件中各种潜在之缺陷，例如：层间短路、电晕电弧或甚至是不易发觉之部分放电等。
四种判定模式
g 波形面积比较 (AREA SIZE)
g 波形差面积比较 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形颤动侦测 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二阶微分侦测 (LAPLACIAN DETECTION)
以二阶微分演算，有效侦测出因电气放电造成之波形不连续现象。
所谓的''绕线元件脉冲测试''基本上是以一''非破坏性''、高速、低能量之电压脉冲施加在待测物上，再藉由分析／比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线元件脉冲测试主要功能乃在早期发现绕线元件中各种潜在之缺陷，例如：层间短路、电晕电弧或甚至是不易发觉之部分放电等。
四种判定模式
g 波形面积比较 (AREA SIZE)
g 波形差面积比较 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形颤动侦测 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二阶微分侦测 (LAPLACIAN DETECTION)
以二阶微分演算，有效侦测出因电气放电造成之波形不连续现象。
如果您有任何问题，请跟我们联系！
联系我们@北京博宇讯铭科技有限公司 京ICP备12051753号-1 京公网安备11010802014051
