Chroma 19501-K局部放电测试器内建交流耐电压测试(Hipot Tes t)与局部放电(Partial D i s c h a rg e, P D)侦测功能于一单机，提供交流电压输出 0 . 1 k V ~ 1 0 k V ， 漏电流测量范围0 . 0 1 µ A ~3 0 0 µ A，局部放电侦测范围1pC~2000pC，针对高压半导体元件与高绝缘材料测试应用所设计与开发。
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单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能
可程序交流耐压输出 0.1kVac~10kVac
高精度及高分辨率电流表 0.01µA~300µA
局部放电(PD)侦测范围 1pC~2000pC
高压接触检查功能( HVCC)
符合IEC60747-5-5、VDE0884、 IEC 60270法规测试要求
内建IEC60747-5-5测试方法
量测与显示单元分离式设计
三段电压测试功能
PD测量结果数值显示 (pC)
PD不良发生次数判定设定 (1~10)
多语系繁中/ 简中/英文操作界面
USB画面撷取功能
图形化辅助编辑功能
标准LAN、USB、RS232远端控制界面
局部放电测试设备用于测量与判定微小放电量，其讯号非常微小且快速，因此局部放电量测设备于出厂前必须透过精密的校正才能确保放电发生时，其高频讯号能够被准确的测量，在高压试验技术法规标准IEC60270-1章节中对于局部放电的校正标准与方法在法规条文中有明确指示跟说明，Chroma 19501-K 局部放电器亦依据法规要求进行设计与开发。校正器上所使用的标准电容Co通常为一个低压电容器，因此执行PD校正时局部放电测试器设备是在不带电的状态下进行校正，也就是只针对PD量测回路执行校正，在法规内文中也有说明，为了使校正有效，用于校正器上的标准电容Co必须小于0.1 Ca，则校正器上的脉冲等效放电量qo=VoCo 单次放电脉冲。如图说明 :
局部放电测试设备用于测量与判定微小放电量，其讯号非常微小且快速，因此局部放电量测设备于出厂前必须透过精密的校正才能确保放电发生时，其高频讯号能够被准确的测量，在高压试验技术法规标准IEC60270-1章节中对于局部放电的校正标准与方法在法规条文中有明确指示跟说明，Chroma 19501-K 局部放电器亦依据法规要求进行设计与开发。校正器上所使用的标准电容Co通常为一个低压电容器，因此执行PD校正时局部放电测试器设备是在不带电的状态下进行校正，也就是只针对PD量测回路执行校正，在法规内文中也有说明，为了使校正有效，用于校正器上的标准电容Co必须小于0.1 Ca，则校正器上的脉冲等效放电量qo=VoCo 单次放电脉冲。如图说明 :
Chroma 19501-K拥有高精度的局部放电测量，具有两个量测档位，分别为200pC与2000pC 档位，测量范围从1pC~2000pC，在200pC档位下分辨率为0.1pC，高精度的测量与直观性的将量测结果显示在画面上，有助于对高绝缘物体进行微小放电量判定与分析。
Chroma 19501-K拥有高精度的局部放电测量，具有两个量测档位，分别为200pC与2000pC 档位，测量范围从1pC~2000pC，在200pC档位下分辨率为0.1pC，高精度的测量与直观性的将量测结果显示在画面上，有助于对高绝缘物体进行微小放电量判定与分析。
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单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能
可程序交流耐压输出 0.1kVac~10kVac
高精度及高分辨率电流表 0.01µA~300µA
局部放电(PD)侦测范围 1pC~2000pC
高压接触检查功能( HVCC)
符合IEC60747-5-5、VDE0884、 IEC 60270法规测试要求
内建IEC60747-5-5测试方法
量测与显示单元分离式设计
三段电压测试功能
PD测量结果数值显示 (pC)
PD不良发生次数判定设定 (1~10)
多语系繁中/ 简中/英文操作界面
USB画面撷取功能
图形化辅助编辑功能
标准LAN、USB、RS232远端控制界面
局部放电测试设备用于测量与判定微小放电量，其讯号非常微小且快速，因此局部放电量测设备于出厂前必须透过精密的校正才能确保放电发生时，其高频讯号能够被准确的测量，在高压试验技术法规标准IEC60270-1章节中对于局部放电的校正标准与方法在法规条文中有明确指示跟说明，Chroma 19501-K 局部放电器亦依据法规要求进行设计与开发。校正器上所使用的标准电容Co通常为一个低压电容器，因此执行PD校正时局部放电测试器设备是在不带电的状态下进行校正，也就是只针对PD量测回路执行校正，在法规内文中也有说明，为了使校正有效，用于校正器上的标准电容Co必须小于0.1 Ca，则校正器上的脉冲等效放电量qo=VoCo 单次放电脉冲。如图说明 :
局部放电测试设备用于测量与判定微小放电量，其讯号非常微小且快速，因此局部放电量测设备于出厂前必须透过精密的校正才能确保放电发生时，其高频讯号能够被准确的测量，在高压试验技术法规标准IEC60270-1章节中对于局部放电的校正标准与方法在法规条文中有明确指示跟说明，Chroma 19501-K 局部放电器亦依据法规要求进行设计与开发。校正器上所使用的标准电容Co通常为一个低压电容器，因此执行PD校正时局部放电测试器设备是在不带电的状态下进行校正，也就是只针对PD量测回路执行校正，在法规内文中也有说明，为了使校正有效，用于校正器上的标准电容Co必须小于0.1 Ca，则校正器上的脉冲等效放电量qo=VoCo 单次放电脉冲。如图说明 :
Chroma 19501-K拥有高精度的局部放电测量，具有两个量测档位，分别为200pC与2000pC 档位，测量范围从1pC~2000pC，在200pC档位下分辨率为0.1pC，高精度的测量与直观性的将量测结果显示在画面上，有助于对高绝缘物体进行微小放电量判定与分析。
Chroma 19501-K拥有高精度的局部放电测量，具有两个量测档位，分别为200pC与2000pC 档位，测量范围从1pC~2000pC，在200pC档位下分辨率为0.1pC，高精度的测量与直观性的将量测结果显示在画面上，有助于对高绝缘物体进行微小放电量判定与分析。
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