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日置LCR电桥测试仪 IM3536DC偏压测量,4Hz~8MHz 品牌: 日置 HIOKI

LCR电桥测试仪 IM3536的应用软件,可使用USB,LAN,GP-IB,RS-232C将LCR测试仪中的测量数据转换成Excel或文本(CSV格式)文件保存的程序。日置LCR测试仪IM3536从研发到生产线活跃在各种领域中。

试用/讲解
选型/报价
维修/校准
系统/集成
  • 日置LCR电桥测试仪 IM3536
  • 日置LCR电桥测试仪 IM3536
  • 日置LCR电桥测试仪 IM3536
  • 主要参数

    测量模式

    LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

    测量参数

    Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

    测量量程

    100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)

    显示范围

    Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

    基本精度

    Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)

    测量频率

    4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

    测量信号电平

    [V模式, CV模式]的[通常模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (≤50 mA)

    1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (≤10 mA)

    [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (≤100 mA)

    [CC模式]的[通常模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (≤5 V)

    1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (≤1 V)

    [CC模式]的[低Z高精度模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (≤1 V)

    [直流电阻测量]: 1 V固定

    DC偏压

    发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

    输出阻抗

    通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

    显示

    彩色TFT5.7英寸,触摸屏

    功能

    比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

    接口

    EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

    电源

    AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

    体积及重量

    330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

    附件

    电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

    主要参数

    测量模式

    LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

    测量参数

    Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

    测量量程

    100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)

    显示范围

    Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

    基本精度

    Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)

    测量频率

    4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

    测量信号电平

    [V模式, CV模式]的[通常模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (≤50 mA)

    1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (≤10 mA)

    [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (≤100 mA)

    [CC模式]的[通常模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (≤5 V)

    1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (≤1 V)

    [CC模式]的[低Z高精度模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (≤1 V)

    [直流电阻测量]: 1 V固定

    DC偏压

    发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

    输出阻抗

    通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

    显示

    彩色TFT5.7英寸,触摸屏

    功能

    比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

    接口

    EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

    电源

    AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

    体积及重量

    330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

    附件

    电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

  • 产品特点

    ————

    测量频率DC,4Hz~8MHz

    可变电压10mV~5V rms

    可变电流10A~100mA rms

    测量时间:≤1ms

    基本精度:±0.05% rdg

    1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量

    可内部发生DC偏压测量

    从研发到生产线活跃在各种领域中

    日置LCR电桥测试仪 IM3536 用于研发评估·研究领域

    因为有大范围的测量条件适用于研发和实际使用条件下的评估,通过变化频率分析线圈的共振点,对有信号依存性的被测物的评估进行可变测量信号的实测等,能够在大范围内改变测量条件。


    在标准·实际使用的测量中实用的DC偏置功能,电容测量时测量信号可与直流电压重叠测量;在评估有信号依存性的被测物时,LCR电桥测试仪 IM3536的应用软件,可使用USB,LAN,GP-IB,RS-232C将LCR测试仪中的测量数据转换成Excel或文本(CSV格式)文件保存的程序。

    日置LCR电桥测试仪 IM3536
    日置LCR电桥测试仪 IM3536 用于研发评估·研究领域

    因为有大范围的测量条件适用于研发和实际使用条件下的评估,通过变化频率分析线圈的共振点,对有信号依存性的被测物的评估进行可变测量信号的实测等,能够在大范围内改变测量条件。


    在标准·实际使用的测量中实用的DC偏置功能,电容测量时测量信号可与直流电压重叠测量;在评估有信号依存性的被测物时,LCR电桥测试仪 IM3536的应用软件,可使用USB,LAN,GP-IB,RS-232C将LCR测试仪中的测量数据转换成Excel或文本(CSV格式)文件保存的程序。

    日置LCR电桥测试仪 IM3536
    日置LCR电桥测试仪 IM3536 便利和效率的提升

    LCR电桥测试仪 IM3536可连续测量,当1台仪器能够高速连续测量不同的条件,可按照顺序读取使用面板保存功能保存的测量条件,并连续测量多个不同条件,这样能一次性实现一个元件中不同条件的检查。

    保存32000个数据的测量结果→导入U盘中用计算机读取。使用图表计算软件打开测量数据,可应用于变异分析和检查数据的管理中。

    为了防止将被充电电容错误的连接到测量端口,IM3536强化了从电容的放电电压中保护内部电路的残留电荷保护功能。

    日置LCR电桥测试仪 IM3536
    日置LCR电桥测试仪 IM3536
    日置LCR电桥测试仪 IM3536 便利和效率的提升

    LCR电桥测试仪 IM3536可连续测量,当1台仪器能够高速连续测量不同的条件,可按照顺序读取使用面板保存功能保存的测量条件,并连续测量多个不同条件,这样能一次性实现一个元件中不同条件的检查。

    保存32000个数据的测量结果→导入U盘中用计算机读取。使用图表计算软件打开测量数据,可应用于变异分析和检查数据的管理中。

    为了防止将被充电电容错误的连接到测量端口,IM3536强化了从电容的放电电压中保护内部电路的残留电荷保护功能。

    生产线检查的可靠性UP “准确”测量功能
    根据标准样品,补偿测量值。生产线中可以互换不同机型间的测量值,可用于校正等中的机型替换。当在低Z高精度模式的设置中,输出电阻变为10,电流可充分流过被测物,可进行高精度测量。低Z高精度模式在100m/1/10量程下有效。电源用的低阻抗的L测量和铝电解电容的ESR测量中是有效果的。

    IM3536接触检查功能,可测量4端子测量时检查样品间的接触不良情况,当选择Hi Z筛选功能时,可检查2端子测量时的接触错误。提高了测量精度的“波形平均值功能”,通过测量速度的设置(FAST、MED、SLOW、SLOW2)可任意设置每个确定的带宽的测量波形数量。
    日置LCR电桥测试仪 IM3536
    生产线检查的可靠性UP “准确”测量功能
    根据标准样品,补偿测量值。生产线中可以互换不同机型间的测量值,可用于校正等中的机型替换。当在低Z高精度模式的设置中,输出电阻变为10,电流可充分流过被测物,可进行高精度测量。低Z高精度模式在100m/1/10量程下有效。电源用的低阻抗的L测量和铝电解电容的ESR测量中是有效果的。

    IM3536接触检查功能,可测量4端子测量时检查样品间的接触不良情况,当选择Hi Z筛选功能时,可检查2端子测量时的接触错误。提高了测量精度的“波形平均值功能”,通过测量速度的设置(FAST、MED、SLOW、SLOW2)可任意设置每个确定的带宽的测量波形数量。
    日置LCR电桥测试仪 IM3536

    主要参数

    测量模式

    LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

    测量参数

    Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

    测量量程

    100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)

    显示范围

    Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

    基本精度

    Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)

    测量频率

    4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

    测量信号电平

    [V模式, CV模式]的[通常模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (≤50 mA)

    1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (≤10 mA)

    [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (≤100 mA)

    [CC模式]的[通常模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (≤5 V)

    1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (≤1 V)

    [CC模式]的[低Z高精度模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (≤1 V)

    [直流电阻测量]: 1 V固定

    DC偏压

    发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

    输出阻抗

    通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

    显示

    彩色TFT5.7英寸,触摸屏

    功能

    比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

    接口

    EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

    电源

    AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

    体积及重量

    330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

    附件

    电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

    主要参数

    测量模式

    LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

    测量参数

    Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

    测量量程

    100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)

    显示范围

    Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

    基本精度

    Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)

    测量频率

    4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

    测量信号电平

    [V模式, CV模式]的[通常模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (≤50 mA)

    1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (≤10 mA)

    [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (≤100 mA)

    [CC模式]的[通常模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (≤5 V)

    1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (≤1 V)

    [CC模式]的[低Z高精度模式]

    4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (≤1 V)

    [直流电阻测量]: 1 V固定

    DC偏压

    发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

    输出阻抗

    通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

    显示

    彩色TFT5.7英寸,触摸屏

    功能

    比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

    接口

    EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

    电源

    AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

    体积及重量

    330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

    附件

    电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

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日置LCR电桥测试仪 IM3536DC偏压测量,4Hz~8MHz 品牌: 日置 HIOKI

LCR电桥测试仪 IM3536的应用软件,可使用USB,LAN,GP-IB,RS-232C将LCR测试仪中的测量数据转换成Excel或文本(CSV格式)文件保存的程序。日置LCR测试仪IM3536从研发到生产线活跃在各种领域中。

  • 试用/讲解
  • 选型/报价
  • 维修/校准
  • 系统/集成
  • 日置LCR电桥测试仪 IM3536
    • 日置LCR电桥测试仪 IM3536
    • 产品特点

      ————

      测量频率DC,4Hz~8MHz

      可变电压10mV~5V rms

      可变电流10A~100mA rms

      测量时间:≤1ms

      基本精度:±0.05% rdg

      1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量

      可内部发生DC偏压测量

      从研发到生产线活跃在各种领域中

      日置LCR电桥测试仪 IM3536 用于研发评估·研究领域

      因为有大范围的测量条件适用于研发和实际使用条件下的评估,通过变化频率分析线圈的共振点,对有信号依存性的被测物的评估进行可变测量信号的实测等,能够在大范围内改变测量条件。


      在标准·实际使用的测量中实用的DC偏置功能,电容测量时测量信号可与直流电压重叠测量;在评估有信号依存性的被测物时,LCR电桥测试仪 IM3536的应用软件,可使用USB,LAN,GP-IB,RS-232C将LCR测试仪中的测量数据转换成Excel或文本(CSV格式)文件保存的程序。

      日置LCR电桥测试仪 IM3536
      日置LCR电桥测试仪 IM3536 用于研发评估·研究领域

      因为有大范围的测量条件适用于研发和实际使用条件下的评估,通过变化频率分析线圈的共振点,对有信号依存性的被测物的评估进行可变测量信号的实测等,能够在大范围内改变测量条件。


      在标准·实际使用的测量中实用的DC偏置功能,电容测量时测量信号可与直流电压重叠测量;在评估有信号依存性的被测物时,LCR电桥测试仪 IM3536的应用软件,可使用USB,LAN,GP-IB,RS-232C将LCR测试仪中的测量数据转换成Excel或文本(CSV格式)文件保存的程序。

      日置LCR电桥测试仪 IM3536
      日置LCR电桥测试仪 IM3536 便利和效率的提升

      LCR电桥测试仪 IM3536可连续测量,当1台仪器能够高速连续测量不同的条件,可按照顺序读取使用面板保存功能保存的测量条件,并连续测量多个不同条件,这样能一次性实现一个元件中不同条件的检查。

      保存32000个数据的测量结果→导入U盘中用计算机读取。使用图表计算软件打开测量数据,可应用于变异分析和检查数据的管理中。

      为了防止将被充电电容错误的连接到测量端口,IM3536强化了从电容的放电电压中保护内部电路的残留电荷保护功能。

      日置LCR电桥测试仪 IM3536
      日置LCR电桥测试仪 IM3536
      日置LCR电桥测试仪 IM3536 便利和效率的提升

      LCR电桥测试仪 IM3536可连续测量,当1台仪器能够高速连续测量不同的条件,可按照顺序读取使用面板保存功能保存的测量条件,并连续测量多个不同条件,这样能一次性实现一个元件中不同条件的检查。

      保存32000个数据的测量结果→导入U盘中用计算机读取。使用图表计算软件打开测量数据,可应用于变异分析和检查数据的管理中。

      为了防止将被充电电容错误的连接到测量端口,IM3536强化了从电容的放电电压中保护内部电路的残留电荷保护功能。

      生产线检查的可靠性UP “准确”测量功能
      根据标准样品,补偿测量值。生产线中可以互换不同机型间的测量值,可用于校正等中的机型替换。当在低Z高精度模式的设置中,输出电阻变为10,电流可充分流过被测物,可进行高精度测量。低Z高精度模式在100m/1/10量程下有效。电源用的低阻抗的L测量和铝电解电容的ESR测量中是有效果的。

      IM3536接触检查功能,可测量4端子测量时检查样品间的接触不良情况,当选择Hi Z筛选功能时,可检查2端子测量时的接触错误。提高了测量精度的“波形平均值功能”,通过测量速度的设置(FAST、MED、SLOW、SLOW2)可任意设置每个确定的带宽的测量波形数量。
      日置LCR电桥测试仪 IM3536
      生产线检查的可靠性UP “准确”测量功能
      根据标准样品,补偿测量值。生产线中可以互换不同机型间的测量值,可用于校正等中的机型替换。当在低Z高精度模式的设置中,输出电阻变为10,电流可充分流过被测物,可进行高精度测量。低Z高精度模式在100m/1/10量程下有效。电源用的低阻抗的L测量和铝电解电容的ESR测量中是有效果的。

      IM3536接触检查功能,可测量4端子测量时检查样品间的接触不良情况,当选择Hi Z筛选功能时,可检查2端子测量时的接触错误。提高了测量精度的“波形平均值功能”,通过测量速度的设置(FAST、MED、SLOW、SLOW2)可任意设置每个确定的带宽的测量波形数量。
      日置LCR电桥测试仪 IM3536

      主要参数

      测量模式

      LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

      测量参数

      Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

      测量量程

      100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)

      显示范围

      Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

      基本精度

      Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)

      测量频率

      4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

      测量信号电平

      [V模式, CV模式]的[通常模式]

      4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (≤50 mA)

      1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (≤10 mA)

      [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]

      4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (≤100 mA)

      [CC模式]的[通常模式]

      4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (≤5 V)

      1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (≤1 V)

      [CC模式]的[低Z高精度模式]

      4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (≤1 V)

      [直流电阻测量]: 1 V固定

      DC偏压

      发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

      输出阻抗

      通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

      显示

      彩色TFT5.7英寸,触摸屏

      功能

      比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

      接口

      EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

      电源

      AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

      体积及重量

      330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

      附件

      电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

      主要参数

      测量模式

      LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

      测量参数

      Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

      测量量程

      100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)

      显示范围

      Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

      基本精度

      Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)

      测量频率

      4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

      测量信号电平

      [V模式, CV模式]的[通常模式]

      4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (≤50 mA)

      1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (≤10 mA)

      [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]

      4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (≤100 mA)

      [CC模式]的[通常模式]

      4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (≤5 V)

      1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (≤1 V)

      [CC模式]的[低Z高精度模式]

      4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (≤1 V)

      [直流电阻测量]: 1 V固定

      DC偏压

      发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

      输出阻抗

      通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

      显示

      彩色TFT5.7英寸,触摸屏

      功能

      比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

      接口

      EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

      电源

      AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

      体积及重量

      330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

      附件

      电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

    如果您有任何问题,请跟我们联系!


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