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E4991B 阻抗分析仪1MHz-3GHz,±0.65% 品牌: 是德科技

E4991B 阻抗分析仪,频率范围为1MHz至3GHz,在宽阻抗范围内的基本精度为0.65%,用于温度特性分析的材料测量选项,以及介电常数和磁导率的直接读取函数。

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  • E4991B 阻抗分析仪
  • E4991B 阻抗分析仪
  • E4991B 阻抗分析仪
  • 型号

    E4991B

    附加信息

    RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces

    基本精度

    0.65%

    直流偏置

    Option 001 40 V

    频率

    ≤1 MHz to 500M/1 G/3 GHz

    测量范围(精度< 10%

    120 mΩ to 52 kΩ

    型号

    E4991B

    附加信息

    RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces

    基本精度

    0.65%

    直流偏置

    Option 001 40 V

    频率

    ≤1 MHz to 500M/1 G/3 GHz

    测量范围(精度< 10%

    120 mΩ to 52 kΩ

  • 产品特点

    ————

    3 种频率选件:1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz,可升级

    ±0.65% 基本精度和 120 mΩ 至 52 kΩ 阻抗范围(10% 测量精度范围)

    测量参数:|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1(1. 需要选件 001)

    内置直流偏置(选件 001):0 V 至 ±40 V,0 A 至 ±100 mA

    10.4 英寸彩色 LCD 触摸屏可显示 4 个通道和 4 条迹线

    数据分析功能:等效电路分析、极限线测试

    介电/磁性材料测量(选件 002):|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ)

    提供温度特征测量(选件 007)和可靠的晶圆上测量(选件 010)

    根据频率有5种机型可供选择


    3 种频率选件(1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz)以及频率升级选件使您可以根据当前的投资额度选购更适合的选件。

    材料测量选件提供温度特征分析功能(选件 007),并能够直接得到介电常数和导磁率的读数(选件 002)。

    探头台连接套件(选件 010)可以在高达 3 GHz 的频率范围内提供晶圆上或微型元器件阻抗测量解决方案。

    E4991B 支持多款测试附件,让测量变得简单而可靠。


    E4991B 阻抗分析仪
    根据频率有5种机型可供选择


    3 种频率选件(1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz)以及频率升级选件使您可以根据当前的投资额度选购更适合的选件。

    材料测量选件提供温度特征分析功能(选件 007),并能够直接得到介电常数和导磁率的读数(选件 002)。

    探头台连接套件(选件 010)可以在高达 3 GHz 的频率范围内提供晶圆上或微型元器件阻抗测量解决方案。

    E4991B 支持多款测试附件,让测量变得简单而可靠。


    E4991B 阻抗分析仪
    出色地表征和测试电子元器件、半导体器件和材料

    无论您是从事研发、质保还是质检工作,E4991B 都可以帮助您出色地表征和测试电子元器件、半导体器件和材料。

    在材料测量方面,E4991B 与 N1500A-005 材料测量套件相结合,能够非常容易地完成从设置夹具到生成报告的整个测量过程(1 GHz)。

    出色地表征和测试电子元器件、半导体器件和材料

    无论您是从事研发、质保还是质检工作,E4991B 都可以帮助您出色地表征和测试电子元器件、半导体器件和材料。

    在材料测量方面,E4991B 与 N1500A-005 材料测量套件相结合,能够非常容易地完成从设置夹具到生成报告的整个测量过程(1 GHz)。

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    E4991B

    附加信息

    RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces

    基本精度

    0.65%

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    ≤1 MHz to 500M/1 G/3 GHz

    测量范围(精度< 10%

    120 mΩ to 52 kΩ

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    E4991B

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    RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces

    基本精度

    0.65%

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    频率

    ≤1 MHz to 500M/1 G/3 GHz

    测量范围(精度< 10%

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如果您有任何问题,请跟我们联系!


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      测量参数:|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1(1. 需要选件 001)

      内置直流偏置(选件 001):0 V 至 ±40 V,0 A 至 ±100 mA

      10.4 英寸彩色 LCD 触摸屏可显示 4 个通道和 4 条迹线

      数据分析功能:等效电路分析、极限线测试

      介电/磁性材料测量(选件 002):|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ)

      提供温度特征测量(选件 007)和可靠的晶圆上测量(选件 010)

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      材料测量选件提供温度特征分析功能(选件 007),并能够直接得到介电常数和导磁率的读数(选件 002)。

      探头台连接套件(选件 010)可以在高达 3 GHz 的频率范围内提供晶圆上或微型元器件阻抗测量解决方案。

      E4991B 支持多款测试附件,让测量变得简单而可靠。


      E4991B 阻抗分析仪
      根据频率有5种机型可供选择


      3 种频率选件(1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz)以及频率升级选件使您可以根据当前的投资额度选购更适合的选件。

      材料测量选件提供温度特征分析功能(选件 007),并能够直接得到介电常数和导磁率的读数(选件 002)。

      探头台连接套件(选件 010)可以在高达 3 GHz 的频率范围内提供晶圆上或微型元器件阻抗测量解决方案。

      E4991B 支持多款测试附件,让测量变得简单而可靠。


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      无论您是从事研发、质保还是质检工作,E4991B 都可以帮助您出色地表征和测试电子元器件、半导体器件和材料。

      在材料测量方面,E4991B 与 N1500A-005 材料测量套件相结合,能够非常容易地完成从设置夹具到生成报告的整个测量过程(1 GHz)。

      出色地表征和测试电子元器件、半导体器件和材料

      无论您是从事研发、质保还是质检工作,E4991B 都可以帮助您出色地表征和测试电子元器件、半导体器件和材料。

      在材料测量方面,E4991B 与 N1500A-005 材料测量套件相结合,能够非常容易地完成从设置夹具到生成报告的整个测量过程(1 GHz)。

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      RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces

      基本精度

      0.65%

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      频率

      ≤1 MHz to 500M/1 G/3 GHz

      测量范围(精度< 10%

      120 mΩ to 52 kΩ

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      RF IV, suitable for accurate impedance evaluation Equivalent circuit analysis (7 models) Material meas. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. with probe station (opt. 010) 4 channels, 4 traces

      基本精度

      0.65%

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      频率

      ≤1 MHz to 500M/1 G/3 GHz

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