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IM3570阻抗分析仪4Hz~5MHz，±0.08% 品牌： 日置 HIOKI

IM3570阻抗分析仪，LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。

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  • IM3570阻抗分析仪
  • IM3570阻抗分析仪
  • IM3570阻抗分析仪

  • 测量模式

    LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

    测量参数

    Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

    测量量程

    100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

    显示范围

    Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值
    θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
    Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

    基本精度

    Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

    测量频率

    4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

    测量信号电平

    V模式，CV模式（普通模式）
    50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
    10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
    CC模式（普通模式）
    10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
    10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）

    输出阻抗

    普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

    显示

    彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF

    测量时间

    0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

    测量速度

    FAST/MED/SLOW/SLOW2

    其他功能

    DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能

    接口

    EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN

    电源

    AC90~264V，50/60Hz，≤150VA

    打印

    拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）

    接口

    GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)

    电源

    AC90~264V，50/60Hz，≤150VA

    体积和重量

    330W×119H×307Dmm，5.8kg

    附件

    电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1


    测量模式

    LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

    测量参数

    Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

    测量量程

    100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

    显示范围

    Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值
    θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
    Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

    基本精度

    Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

    测量频率

    4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

    测量信号电平

    V模式，CV模式（普通模式）
    50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
    10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
    CC模式（普通模式）
    10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
    10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）

    输出阻抗

    普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

    显示

    彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF

    测量时间

    0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

    测量速度

    FAST/MED/SLOW/SLOW2

    其他功能

    DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能

    接口

    EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN

    电源

    AC90~264V，50/60Hz，≤150VA

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    GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)

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    AC90~264V，50/60Hz，≤150VA

    体积和重量

    330W×119H×307Dmm，5.8kg

    附件

    电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1


  • 产品特点

    ————

    1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

    LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量

    基本精度±0.08%的高精度测量

    适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

    分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

    可以用于无线充电评价系统TS2400

    搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量

    高速、高精度测量，提高检查效率
    和HIOKI以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复精 度提高了一位。 例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复 精度(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。 同时，因为也提高了相位的重复精度，所以提高了低电容(高阻 抗)测量时的D测量的稳定性。
    IM3570阻抗分析仪
    高速、高精度测量，提高检查效率
    和HIOKI以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复精 度提高了一位。 例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复 精度(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。 同时，因为也提高了相位的重复精度，所以提高了低电容(高阻 抗)测量时的D测量的稳定性。
    IM3570阻抗分析仪
    2MHz阻抗的4ch测量方案
     可搭载半导体继电器。高速又耐用。
    ● 可支持频率 ≤2MHz。
    ● 切换时间 0.5ms。
    ● 用PLC的I/O输出控制。
    ● 主要用于：电子零部件、电感、电容、共模滤波器、扫描仪等。
    IM3570阻抗分析仪
    IM3570阻抗分析仪
    2MHz阻抗的4ch测量方案
     可搭载半导体继电器。高速又耐用。
    ● 可支持频率 ≤2MHz。
    ● 切换时间 0.5ms。
    ● 用PLC的I/O输出控制。
    ● 主要用于：电子零部件、电感、电容、共模滤波器、扫描仪等。
    Multi-plot
    该软件能利用既定模型解析电池阻抗数据的等效回路。擅长解析Li-lon电池，特别是数十mΩ的阻抗数据。该Web软件可将数个阻抗数据同时绘制在Nyquist (Cole-Cole)或Bode plot上。 下载csv文件即可获取解析结果
    IM3570阻抗分析仪
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    该软件能利用既定模型解析电池阻抗数据的等效回路。擅长解析Li-lon电池，特别是数十mΩ的阻抗数据。该Web软件可将数个阻抗数据同时绘制在Nyquist (Cole-Cole)或Bode plot上。 下载csv文件即可获取解析结果
    IM3570阻抗分析仪

    测量模式

    LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

    测量参数

    Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

    测量量程

    100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

    显示范围

    Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值
    θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
    Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

    基本精度

    Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

    测量频率

    4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

    测量信号电平

    V模式，CV模式（普通模式）
    50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
    10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
    CC模式（普通模式）
    10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
    10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）

    输出阻抗

    普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

    显示

    彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF

    测量时间

    0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

    测量速度

    FAST/MED/SLOW/SLOW2

    其他功能

    DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能

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    EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN

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    AC90~264V，50/60Hz，≤150VA

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    测量模式

    LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

    测量参数

    Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

    测量量程

    100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

    显示范围

    Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值
    θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
    Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

    基本精度

    Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

    测量频率

    4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

    测量信号电平

    V模式，CV模式（普通模式）
    50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
    10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
    CC模式（普通模式）
    10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
    10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）

    输出阻抗

    普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

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    0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

    测量速度

    FAST/MED/SLOW/SLOW2

    其他功能

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      1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

      LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量

      基本精度±0.08%的高精度测量

      适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

      分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

      可以用于无线充电评价系统TS2400

      搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量

      高速、高精度测量，提高检查效率
      和HIOKI以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复精 度提高了一位。 例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复 精度(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。 同时，因为也提高了相位的重复精度，所以提高了低电容(高阻 抗)测量时的D测量的稳定性。
      IM3570阻抗分析仪
      高速、高精度测量，提高检查效率
      和HIOKI以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复精 度提高了一位。 例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复 精度(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。 同时，因为也提高了相位的重复精度，所以提高了低电容(高阻 抗)测量时的D测量的稳定性。
      IM3570阻抗分析仪
      2MHz阻抗的4ch测量方案
       可搭载半导体继电器。高速又耐用。
      ● 可支持频率 ≤2MHz。
      ● 切换时间 0.5ms。
      ● 用PLC的I/O输出控制。
      ● 主要用于：电子零部件、电感、电容、共模滤波器、扫描仪等。
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      2MHz阻抗的4ch测量方案
       可搭载半导体继电器。高速又耐用。
      ● 可支持频率 ≤2MHz。
      ● 切换时间 0.5ms。
      ● 用PLC的I/O输出控制。
      ● 主要用于：电子零部件、电感、电容、共模滤波器、扫描仪等。
      Multi-plot
      该软件能利用既定模型解析电池阻抗数据的等效回路。擅长解析Li-lon电池，特别是数十mΩ的阻抗数据。该Web软件可将数个阻抗数据同时绘制在Nyquist (Cole-Cole)或Bode plot上。 下载csv文件即可获取解析结果
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      测量模式

      LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

      测量参数

      Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

      测量量程

      100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

      显示范围

      Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值
      θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
      Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

      基本精度

      Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

      测量频率

      4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

      测量信号电平

      V模式，CV模式（普通模式）
      50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
      10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
      CC模式（普通模式）
      10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
      10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）

      输出阻抗

      普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

      显示

      彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF

      测量时间

      0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

      测量速度

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      其他功能

      DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能

      接口

      EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN

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      AC90~264V，50/60Hz，≤150VA

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      LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

      测量参数

      Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

      测量量程

      100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

      显示范围

      Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值
      θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
      Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

      基本精度

      Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

      测量频率

      4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

      测量信号电平

      V模式，CV模式（普通模式）
      50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
      10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
      CC模式（普通模式）
      10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
      10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）

      输出阻抗

      普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

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      测量时间

      0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

      测量速度

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      其他功能

      DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能

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