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泰克DMM7512 双通道 采样万用表1 M 采样/秒, 10 nv、0.1 µΩ 和 1 pA 灵敏度 品牌: 泰克 Tektronix

DMM7512 将两个全功能、高精度、高采样速度的数字万用表组合到一个 1U 高的全机架宽机箱中。该紧凑型机箱可在高密度仪器测试系统中节省机架空间,而不会影响测量性能。每个 DMM 具有相同的功能,并且完全相互独立。

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  • 泰克DMM7512 双通道 采样万用表
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  • 泰克DMM7512 双通道 采样万用表
  • 通道数

    范围

    最佳精度(1 年)

    测量速度/通道

    2

    10 nV  1000 V
    0.1 µ1 G
    1 pA - 3 A

    14 ppm
    24 ppm
    60 ppm

    0.0005 NPLC
    (集成 A/D
    1M 采样/
    (数字化 A/D

    通道数

    范围

    最佳精度(1 年)

    测量速度/通道

    2

    10 nV  1000 V
    0.1 µ1 G
    1 pA - 3 A

    14 ppm
    24 ppm
    60 ppm

    0.0005 NPLC
    (集成 A/D
    1M 采样/
    (数字化 A/D

  • 产品特点

    ————

    使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数

    以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件

    使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现高测试质量

    内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务

    将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U

    无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理

    在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器

    以低于 500 ns 的延迟同步测量值

    消除仪器和 PC 之间耗时的通信

    DMM7512 TSP 代码与 DMM7510 TSP 代码兼容

    两台 DMM7510 内置在一个紧凑型机箱中

    DMM7512 由两个彼此独立的相同 7½ 位 DMM7510 数字万用表 (DMM) 组成,相比 DMM7510 具有更多测量功能。两个 DMM7512 数字万用表具有与 DMM7510 相同的精度、灵敏度和速度,因此 DMM7512 可以无缝集成到以前采用 DMM7510 的测试系统中。


    特点

    • 使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数
    • 以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件
    • 使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现高测试质量
    • 内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务
    泰克DMM7512 双通道 采样万用表
    两台 DMM7510 内置在一个紧凑型机箱中

    DMM7512 由两个彼此独立的相同 7½ 位 DMM7510 数字万用表 (DMM) 组成,相比 DMM7510 具有更多测量功能。两个 DMM7512 数字万用表具有与 DMM7510 相同的精度、灵敏度和速度,因此 DMM7512 可以无缝集成到以前采用 DMM7510 的测试系统中。


    特点

    • 使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数
    • 以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件
    • 使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现高测试质量
    • 内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务
    泰克DMM7512 双通道 采样万用表
    双测试系统密度

    在 1U 高机架空间内使用两个 DMM,节省宝贵的机架空间。与两台 2U 高 DMM7510 相比,您可以在一半的空间内获得两倍的测量能力。


    特点

    • 将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U
    • 无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理
    泰克DMM7512 双通道 采样万用表
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    在 1U 高机架空间内使用两个 DMM,节省宝贵的机架空间。与两台 2U 高 DMM7510 相比,您可以在一半的空间内获得两倍的测量能力。


    特点

    • 将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U
    • 无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理
    显著缩短测试时间

    每台 DMM7512 中的两个 DMM 具有内置智能,可以使用其测试脚本处理器 (TSP®) 技术在无需 PC 交互的情况下执行测试程序。此外,每个 DMM 都具有 TSP-Link® 硬件接口,因此一台仪器可以控制主从配置中的其他仪器。


    特点

    • 在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器
    • 以低于 500 ns 的延迟同步测量值
    • 消除仪器和 PC 之间耗时的通信
    • DMM7512 TSP 代码与 DMM7510 TSP 代码兼容
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    显著缩短测试时间

    每台 DMM7512 中的两个 DMM 具有内置智能,可以使用其测试脚本处理器 (TSP®) 技术在无需 PC 交互的情况下执行测试程序。此外,每个 DMM 都具有 TSP-Link® 硬件接口,因此一台仪器可以控制主从配置中的其他仪器。


    特点

    • 在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器
    • 以低于 500 ns 的延迟同步测量值
    • 消除仪器和 PC 之间耗时的通信
    • DMM7512 TSP 代码与 DMM7510 TSP 代码兼容
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    2

    10 nV  1000 V
    0.1 µ1 G
    1 pA - 3 A

    14 ppm
    24 ppm
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    1M 采样/
    (数字化 A/D

    通道数

    范围

    最佳精度(1 年)

    测量速度/通道

    2

    10 nV  1000 V
    0.1 µ1 G
    1 pA - 3 A

    14 ppm
    24 ppm
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泰克DMM7512 双通道 采样万用表1 M 采样/秒, 10 nv、0.1 µΩ 和 1 pA 灵敏度 品牌: 泰克 Tektronix

DMM7512 将两个全功能、高精度、高采样速度的数字万用表组合到一个 1U 高的全机架宽机箱中。该紧凑型机箱可在高密度仪器测试系统中节省机架空间,而不会影响测量性能。每个 DMM 具有相同的功能,并且完全相互独立。

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      以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件

      使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现高测试质量

      内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务

      将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U

      无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理

      在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器

      以低于 500 ns 的延迟同步测量值

      消除仪器和 PC 之间耗时的通信

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      两台 DMM7510 内置在一个紧凑型机箱中

      DMM7512 由两个彼此独立的相同 7½ 位 DMM7510 数字万用表 (DMM) 组成,相比 DMM7510 具有更多测量功能。两个 DMM7512 数字万用表具有与 DMM7510 相同的精度、灵敏度和速度,因此 DMM7512 可以无缝集成到以前采用 DMM7510 的测试系统中。


      特点

      • 使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数
      • 以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件
      • 使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现高测试质量
      • 内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务
      泰克DMM7512 双通道 采样万用表
      两台 DMM7510 内置在一个紧凑型机箱中

      DMM7512 由两个彼此独立的相同 7½ 位 DMM7510 数字万用表 (DMM) 组成,相比 DMM7510 具有更多测量功能。两个 DMM7512 数字万用表具有与 DMM7510 相同的精度、灵敏度和速度,因此 DMM7512 可以无缝集成到以前采用 DMM7510 的测试系统中。


      特点

      • 使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数
      • 以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件
      • 使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现高测试质量
      • 内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务
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      双测试系统密度

      在 1U 高机架空间内使用两个 DMM,节省宝贵的机架空间。与两台 2U 高 DMM7510 相比,您可以在一半的空间内获得两倍的测量能力。


      特点

      • 将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U
      • 无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理
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      在 1U 高机架空间内使用两个 DMM,节省宝贵的机架空间。与两台 2U 高 DMM7510 相比,您可以在一半的空间内获得两倍的测量能力。


      特点

      • 将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U
      • 无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理
      显著缩短测试时间

      每台 DMM7512 中的两个 DMM 具有内置智能,可以使用其测试脚本处理器 (TSP®) 技术在无需 PC 交互的情况下执行测试程序。此外,每个 DMM 都具有 TSP-Link® 硬件接口,因此一台仪器可以控制主从配置中的其他仪器。


      特点

      • 在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器
      • 以低于 500 ns 的延迟同步测量值
      • 消除仪器和 PC 之间耗时的通信
      • DMM7512 TSP 代码与 DMM7510 TSP 代码兼容
      泰克DMM7512 双通道 采样万用表
      显著缩短测试时间

      每台 DMM7512 中的两个 DMM 具有内置智能,可以使用其测试脚本处理器 (TSP®) 技术在无需 PC 交互的情况下执行测试程序。此外,每个 DMM 都具有 TSP-Link® 硬件接口,因此一台仪器可以控制主从配置中的其他仪器。


      特点

      • 在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器
      • 以低于 500 ns 的延迟同步测量值
      • 消除仪器和 PC 之间耗时的通信
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      2

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      0.1 µ1 G
      1 pA - 3 A

      14 ppm
      24 ppm
      60 ppm

      0.0005 NPLC
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      1M 采样/
      (数字化 A/D

      通道数

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      最佳精度(1 年)

      测量速度/通道

      2

      10 nV  1000 V
      0.1 µ1 G
      1 pA - 3 A

      14 ppm
      24 ppm
      60 ppm

      0.0005 NPLC
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