使用速度为 1M 采样/秒的 18 位数字化仪对复杂波形进行采样;存储高达 2750 万个读数
以 0.1 μΩ 和 1 pA 灵敏度测试用于低功率电路中的组件
使用高达 14 ppm 的 1 年期精度直流电压,通过高测试不确定度比率实现高测试质量
内置测试脚本处理器 (TSP®) 可在无需控制器交互的情况下执行测试序列,从而减少测试时间和通信开销,同时利用控制器执行其他任务
将源和测量与 2606B 高密度 4 通道源测量单元 (SMU) 和 DMM7512 相结合,可实现 4 通道采样和 2 通道测量功能,而占用的机架空间仅为 2U
无需在 DMM7512 或 2606B 之间提供额外空间以用于热管理
在 TSP-Link 测试系统中最多可控制 32 台仪器
以低于 500 ns 的延迟同步测量值
消除仪器和 PC 之间耗时的通信
DMM7512 TSP 代码与 DMM7510 TSP 代码兼容