1.什么是半导体分立器件
半导体分立器件泛指半导体晶体二极管、半导体三极管,简称二极管、三极管及半导体特殊器件。
2.主要产品分类:
半导体二极管:锗二极管、硅二极管、化合物二极管等;
半导体三极管:锗三极管、硅三极管、化合物三极管等;
特种器件及传感器:
敏感器件:压力敏感器件、磁敏器件(含霍尔器件及霍尔电路)、气敏器件、湿敏器件、离子敏感器件、声敏感器件、射线敏感器件、生物敏感器件、静电感器件等;
装好的压电晶体类似半导体器件;
继电器、固态过压保护器、光电开关管;
达林顿阵列。
3.测量参数:
漏电参数:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
击穿参数:BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、 BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益参数:hFE、CTR、gFS、
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)
混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
关断参数:VGSOFF
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH、IH+、IH-
锁定参数:IL、IL+、IL-
4.半导体分立器件系统组成
系统一般分为静态测试和动态测试两种,根据客户不同需求配置不同测量仪器。
典型配置:计算机,测试软件,测量硬件(直流电源,万用表、示波器、任意波发生器),专用定制测量夹具。